GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
IEC 60068-2-2：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2-2部分：試驗(yàn) 試驗(yàn)B：干熱
GB/T 2421電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第1部分：總則
GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化
GB/T 2424.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則
GB/T2424.5電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)

高溫條件下，產(chǎn)品所使用零件、材料在高溫時(shí)可能發(fā)生軟化、效能降低、特性改變、潛在破壞、氧化等現(xiàn)象。電子電工產(chǎn)品高溫試驗(yàn)是確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。高溫試驗(yàn)分為散熱樣品的高溫試驗(yàn)（溫度漸變）和非散熱試驗(yàn)樣品的高溫試驗(yàn)（溫度漸變）。
健明迪檢測(cè)可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種電工電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸樯岷头巧犭姽る娮赢a(chǎn)品提供專業(yè)的高溫試驗(yàn)服務(wù)。

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1、試驗(yàn)Bb：非散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的高溫試驗(yàn)
本試驗(yàn)方法用來進(jìn)行非散熱試驗(yàn)樣品的高溫試驗(yàn)，試驗(yàn)樣品在高溫條件下放置足夠長(zhǎng)時(shí)間以達(dá)到溫度穩(wěn)定。
2、試驗(yàn)B：散熱試驗(yàn)祥品溫度漸變的高溫試驗(yàn)一試驗(yàn)樣品在升溫調(diào)節(jié)期不通電
本試驗(yàn)方法用來進(jìn)行散熱試驗(yàn)樣品的高溫試驗(yàn)，試驗(yàn)樣品在高溫條件下放置足夠長(zhǎng)時(shí)間以達(dá)到溫度穩(wěn)定。
3、試驗(yàn)Be：散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的高溫試驗(yàn)一試驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過程通電
本試驗(yàn)方法用來進(jìn)行散熱試驗(yàn)樣品的高溫試驗(yàn)，試驗(yàn)樣品在高溫條件下放置足夠長(zhǎng)時(shí)間以達(dá)到溫度穩(wěn)定，并且要求試驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過程中通電。